ФТП, 2009, том 43, выпуск 6

 Другие выпуски  Другие журналы  Поиск   KOI  WIN  DOS 
 
   Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников
 
Карасев П.А., Азаров А.Ю., Титов А.И., Кучеев С.О.
Плотность каскадов смещений кластерного иона:
методика расчета и влияние на образование
структурных нарушений в ZnO и GaN
721
 
Моллаев А.Ю., Сайпулаева Л.А., Алибеков А.Г., Маренкин С.Ф., Бабушкин А.Н.
Фазовые превращения в полупроводниках A IIB V
при высоком давлении
730
 
Беляев А.П., Рубец В.П., Антипов В.В., Тошходжаев Х.А.
Структура пленок твердых растворов селенотеллуридов кадмия, выращенных методом теплового экрана при резко
неравновесных условиях
735
 
Астров Ю.А., Козлов В.А., Лодыгин А.Н., Порцель Л.М., Шуман В.Б., Gurevich E.L., Hergenroder R.
Перераспределение глубоких примесей селена и серы в кремнии при легировании поверхности фосфором
739
 
   Электронные и оптические свойства полупроводников
 
Буланый М.Ф., Коваленко А.В., Полежаев Б.А., Прокофьев Т.А.
Распределение электрических полей в монокристаллах ZnS : Mn
при электролюминесценции
745
 
Пагава Т.А., Майсурадзе Н.И.
Влияние энергии фотовозбуждения в процессе электронного облучения на дефектообразование в кристаллах n-Si
750
 
Беляев А.Е., Болтовец Н.С., Иванов В.Н., Капитанчук Л.М., Конакова Р.В., Кудрик Я.Я., Миленин В.В.
Термо- и радиационно стабильные контакты к SiC на основе квазиаморфных пленок ZrB2
755
 
Попович В.Д., Potera P., Вирт И.С., Билык М.Ф.
Влияние примеси хлора на длинноволновый край полосы поглощения монокристаллов CdTe
759
 
Басалаев Ю.М., Кособуцкий А.В., Поплавной А.С.
Особенности электронных и колебательных свойств
кристаллов A IB VX V2
764
 
Фукс Б.И.
Использование теории переходных процессов в высокоомных полупроводниках для определения структуры холодной Вселенной
769
 
Олих О.Я.
Изменение активности рекомбинационных центров
в кремниевых p-n-структурах в условиях
акустического нагружения
774
 
   Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность
 
Калыгина В.М., Грицык В.Ю.
Влияние монооксида углерода на вольт-фарадные характеристики МОП диодов Pd-SiO2-Si
780
 
Лебедев А.А., Абрамов П.Л., Богданова Е.В., Зубрилов А.С., Лебедев С.П., Нельсон Д.К., Середова Н.В., Смирнов А.Н., Трегубова А.С.
Исследование слоев 3C-SiC, выращенных на подложках 15R-SiC
785
 
Клочихин А.А., Страшкова И.Ю.
Квантовое решение задачи аккумуляционного слоя n-InN
789
 
Лисицкий О.Л., Кумеков М.Е., Кумеков С.Е., Теруков  Е.И.
Поликристаллический тонкопленочный гетеропереход n-ZnO/p-CuO
794
 
   Низкоразмерные системы
 
Александров И.А., Журавлев К.С., Мансуров В.Г.
Безызлучательная рекомбинация в квантовых точках GaN, сформированных в матрице AlN
797
 
   Аморфные, стеклообразные, пористые, органические, микрокристаллические полупроводники, полупроводниковые композиты
 
Борковская Л.В., Корсунская Н.Е., Крыштаб Т.Г., Гермаш Л.П., Печерская Е.Ю., Остапенко С., Чернокур А.
Влияние присоединения биомолекул на фотолюминесцентные и структурные характеристики квантовых точек CdSe-ZnS
804
 
   Физика полупроводниковых приборов
 
Русских Д.В., Рембеза С.И.
Релаксация оптически стимулированного электросопротивления тонких пленок SnO2
811
 
Орлов М.Л., Панин А.Н., Орлов Л.К.
Механизмы и особенности детектирования излучения субмиллиметрового диапазона длин волн полевыми
транзисторами с коротким двумерным каналом
816
 
Еремин В.К., Вербицкая Е.М., Ильяшенко И.Н., Еремин И.В., Сафонова Н.Н., Тубольцев Ю.В., Егоров Н.Н., Голубков С.А., Коньков К.А.
Межсегментное сопротивление в кремниевых позиционно-чувствительных приемниках
излучений на основе p-n-переходов
825
 
Бобренко Ю.Н., Павелец С.Ю., Павелец А.М.
Эффективные фотоэлектрические преобразователи ультрафиолетового излучения с варизонными
слоями на основе ZnS
830
 
Сизов В.С., Гуткин А.А., Сахаров А.В., Лундин В.В., Брунков П.Н., Цацульников А.Ф.
Фазовый распад и безызлучательная рекомбинация носителей в активных областях светоизлучающих приборов на основе квантовых точек InGaN в матрице GaN или AlGaN
836
 
Сахаров А.В., Лундин В.В., Заварин Е.Е., Синицын М.А., Николаев А.Е., Усов С.О., Сизов В.С., Михайловский Г.А., Черкашин Н.А., Hytch M., Hue F., Яковлев Е.В., Лобанова А.В., Цацульников А.Ф.
Влияние релаксации напряжений на формирование активной области гетероструктур InGaN/(Al)GaN для светодиодов
зеленого диапазона
841
 
Вольфсон А.А.
Самопроизвольное отделение слоя AlN, полученного методом сублимации, от подложки SiC-6H
847
 
   Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
 
Корнилов В.М., Лачинов А.Н., Логинов Б.А., Беспалов В.А.
Сканирующая туннельная микроскопия структуры Si-SiO2: использование режима ошибки обратной связи
при исследовании поверхности
850
 
Дмитриев С.Г.
Связь между измеряемыми токами и зарядами в образце при диагностике неоднородных диэлектрических пленок
854
 
Сердобинцев А.А., Веселов А.Г., Кирясова О.А., Портнов С.А., Браташов Д.Н.
Импульсное напыление в низкотемпературной плазме тонких пленок с наноразмерной периодичностью свойств
859


Copyright (C) 2009, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster