| Другие выпуски | Другие журналы | Поиск | KOI | WIN | DOS |
|---|
| Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников | |
| Карасев П.А., Азаров А.Ю., Титов А.И., Кучеев С.О. Плотность каскадов смещений кластерного иона: методика расчета и влияние на образование структурных нарушений в ZnO и GaN | 721 |
|---|---|
| Моллаев А.Ю., Сайпулаева Л.А., Алибеков А.Г., Маренкин С.Ф., Бабушкин А.Н. Фазовые превращения в полупроводниках AB при высоком давлении | 730 |
| Беляев А.П., Рубец В.П., Антипов В.В., Тошходжаев Х.А. Структура пленок твердых растворов селенотеллуридов кадмия, выращенных методом теплового экрана при резко неравновесных условиях | 735 |
| Астров Ю.А., Козлов В.А., Лодыгин А.Н., Порцель Л.М., Шуман В.Б., Gurevich E.L., Hergenroder R. Перераспределение глубоких примесей селена и серы в кремнии при легировании поверхности фосфором | 739 |
| Электронные и оптические свойства полупроводников | |
| Буланый М.Ф., Коваленко А.В., Полежаев Б.А., Прокофьев Т.А. Распределение электрических полей в монокристаллах ZnS : Mn при электролюминесценции | 745 |
| Пагава Т.А., Майсурадзе Н.И. Влияние энергии фотовозбуждения в процессе электронного облучения на дефектообразование в кристаллах -Si | 750 |
| Беляев А.Е., Болтовец Н.С., Иванов В.Н., Капитанчук Л.М., Конакова Р.В., Кудрик Я.Я., Миленин В.В. Термо- и радиационно стабильные контакты к SiC на основе квазиаморфных пленок ZrB | 755 |
| Попович В.Д., Potera P., Вирт И.С., Билык М.Ф. Влияние примеси хлора на длинноволновый край полосы поглощения монокристаллов CdTe | 759 |
| Басалаев Ю.М., Кособуцкий А.В., Поплавной А.С. Особенности электронных и колебательных свойств кристаллов ABX | 764 |
| Фукс Б.И. Использование теории переходных процессов в высокоомных полупроводниках для определения структуры холодной Вселенной | 769 |
| Олих О.Я. Изменение активности рекомбинационных центров в кремниевых -структурах в условиях акустического нагружения | 774 |
| Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность | |
| Калыгина В.М., Грицык В.Ю. Влияние монооксида углерода на вольт-фарадные характеристики МОП диодов PdSiOSi | 780 |
| Лебедев А.А., Абрамов П.Л., Богданова Е.В., Зубрилов А.С., Лебедев С.П., Нельсон Д.К., Середова Н.В., Смирнов А.Н., Трегубова А.С. Исследование слоев -SiC, выращенных на подложках -SiC | 785 |
| Клочихин А.А., Страшкова И.Ю. Квантовое решение задачи аккумуляционного слоя -InN | 789 |
| Лисицкий О.Л., Кумеков М.Е., Кумеков С.Е., Теруков Е.И. Поликристаллический тонкопленочный гетеропереход -ZnO/-CuO | 794 |
| Низкоразмерные системы | |
| Александров И.А., Журавлев К.С., Мансуров В.Г. Безызлучательная рекомбинация в квантовых точках GaN, сформированных в матрице AlN | 797 |
| Аморфные, стеклообразные, пористые, органические, микрокристаллические полупроводники, полупроводниковые композиты | |
| Борковская Л.В., Корсунская Н.Е., Крыштаб Т.Г., Гермаш Л.П., Печерская Е.Ю., Остапенко С., Чернокур А. Влияние присоединения биомолекул на фотолюминесцентные и структурные характеристики квантовых точек CdSeZnS | 804 |
| Физика полупроводниковых приборов | |
| Русских Д.В., Рембеза С.И. Релаксация оптически стимулированного электросопротивления тонких пленок SnO | 811 |
| Орлов М.Л., Панин А.Н., Орлов Л.К. Механизмы и особенности детектирования излучения субмиллиметрового диапазона длин волн полевыми транзисторами с коротким двумерным каналом | 816 |
| Еремин В.К., Вербицкая Е.М., Ильяшенко И.Н., Еремин И.В., Сафонова Н.Н., Тубольцев Ю.В., Егоров Н.Н., Голубков С.А., Коньков К.А. Межсегментное сопротивление в кремниевых позиционно-чувствительных приемниках излучений на основе -переходов | 825 |
| Бобренко Ю.Н., Павелец С.Ю., Павелец А.М. Эффективные фотоэлектрические преобразователи ультрафиолетового излучения с варизонными слоями на основе ZnS | 830 |
| Сизов В.С., Гуткин А.А., Сахаров А.В., Лундин В.В., Брунков П.Н., Цацульников А.Ф. Фазовый распад и безызлучательная рекомбинация носителей в активных областях светоизлучающих приборов на основе квантовых точек InGaN в матрице GaN или AlGaN | 836 |
| Сахаров А.В., Лундин В.В., Заварин Е.Е., Синицын М.А., Николаев А.Е., Усов С.О., Сизов В.С., Михайловский Г.А., Черкашин Н.А., Hytch M., Hue F., Яковлев Е.В., Лобанова А.В., Цацульников А.Ф. Влияние релаксации напряжений на формирование активной области гетероструктур InGaN/(Al)GaN для светодиодов зеленого диапазона | 841 |
| Вольфсон А.А. Самопроизвольное отделение слоя AlN, полученного методом сублимации, от подложки SiC-6 | 847 |
| Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур | |
| Корнилов В.М., Лачинов А.Н., Логинов Б.А., Беспалов В.А. Сканирующая туннельная микроскопия структуры SiSiO: использование режима ошибки обратной связи при исследовании поверхности | 850 |
| Дмитриев С.Г. Связь между измеряемыми токами и зарядами в образце при диагностике неоднородных диэлектрических пленок | 854 |
| Сердобинцев А.А., Веселов А.Г., Кирясова О.А., Портнов С.А., Браташов Д.Н. Импульсное напыление в низкотемпературной плазме тонких пленок с наноразмерной периодичностью свойств | 859 |