| Другие выпуски | Другие журналы | Поиск | KOI | WIN | DOS |
|---|
| Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников | |
| Поляков М.Е. Многочастотные кинки в многочастотных внешних полях | 3 |
|---|---|
| Гасан-заде С.Г., Старый С.В., Стриха М.В., Шепельский Г.А. Электрическая активность дислокаций и точечных дефектов деформационного происхождения в кристаллах CdHgTe | 8 |
| Скворцов А.А., Литвиненко О.В., Орлов А.М. Определение констант деформационного потенциала -Si, -Si по концентрационному ангармонизму | 17 |
| Электронные и оптические свойства полупроводников | |
| Брудный В.Н., Пешев В.В. Влияние электронного (зарядового) состояния -ловушек на эффективность их накопления в -GaAs при облучении | 22 |
| Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность | |
| Игамбердиев Х.Т., Мамадалимов А.Т., Муминов Р.А., Усманов Т.А., Шоюсупов Ш.А. Исследование фотоемкости диодов из кремния, легированного ванадием | 29 |
| Глауберман М.А., Егоров В.В., Козел В.В., Канищева Н.А. Исследование магниточувствительности транзисторных структур с диффузионным переносом инжектированных носителей | 32 |
| Коваленко В.Ф., Шутов С.В. Размерный эффект двухфотонного поглощения рекомбинационного излучения в варизонных твердых растворах AlGaAs | 39 |
| Красников Г.Я., Зайцев Н.А., Матюшкин И.В. Математическое моделирование кинетики высокотемпературного окисления кремния и структуры пограничного слоя в системе Si--SiO | 44 |
| Барановский О.К., Кучинский П.В., Савенок Е.Д. Шумовые характеристики кремниевых -структур с тонкой областью умножения при термическом отжиге радиационных дефектов | 50 |
| Блинова Н.В., Краснопеева Е.Л., Николаев Ю.А., Осадчев А.Ю., Рудь В.Ю., Рудь Ю.В., Теруков Е.И., Шаманин В.В. Фотоэлектрические свойства гетеропереходов кремний--полигомосопряженные элементоорганические соединения | 53 |
| Астрова Е.В., Коровин Л.И., Ланг И.Г., Ременюк А.Д., Шуман В.Б. Прозрачность макропористого кремния со сквозными каналами | 57 |
| Строкан Н.Б., Иванов А.М., Бойко М.Е., Савкина Н.С., Стрельчук А.М., Лебедев А.А., Якимовa Р. Карбид-кремниевые транзисторные структуры как детекторы слабоионизирующего излучения | 65 |
| Низкоразмерные системы | |
| Кульбачинский В.А., Лунин Р.А., Рогозин В.А., Мокеров В.Г., Федоров Ю.В., Хабаров Ю.В., Нарюми Е., Киндо К., де Виссер А. Латеральный электронный транспорт в короткопериодных сверхрешетках InAs/GaAs на пороге образования квантовых точек | 70 |
| Галиев Г.Б., Каминский В.Э., Мокеров В.Г., Авакянц Л.П., Боков П.Ю., Червяков А.В., Кульбачинский В.А. Исследования электронных переходов в связанных квантовых ямах со встроенным электрическим полем методом спектроскопии фотоотражения | 77 |
| Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники | |
| Гинзбург Л.П. Влияние заряженных дефектов на обнаружение электронного парамагнитного резонанса в стеклообразных халькогенидных полупроводниках | 83 |
| Наумова О.В., Антонова И.В., Попов В.П., Стась В.Ф. Электрофизические свойства структур Si : H/-Si, полученных имплантацией водорода | 93 |
| Лисовский И.П., Индутный И.З., Гненный Б.Н., Литвин П.М., Мазунов Д.О., Оберемок А.С., Сопинский Н.В., Шепелявый П.Е. Фазово-структурные превращения в пленках SiO в процессе вакуумных термообработок | 98 |
| Венгер Е.Ф., Голиней Р.Ю., Матвеева Л.А., Васин А.В. Влияние водородной плазмы на спектр электроотражения и спектр электронных состояний пористого кремния | 104 |
| Бирюлин Ю.Ф., Меленевская Е.Ю., Миков С.Н., Орлов С.Е., Петриков В.Д., Сыкманов Д.А., Згонник В.Н. Оптические свойства фуллеренсодержащих свободных пленок полидиметилфениленоксида | 110 |
| Физика полупроводниковых приборов | |
| Гордеев Н.Ю., Зайцев С.В., Карачинский Л.Я., Копчатов В.И., Новиков И.И., Устинов В.М., Копьев П.С. Особенности электролюминесценции инжекционных лазеров на основе вертикально-связанных квантовых точек вблизи порога лазерной генерации | 114 |
| Булярский С.В., Ионычев В.К., Кузьмин В.В. Туннельная рекомбинация в кремниевых лавинных диодах | 117 |